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Caractérisation optique de matériaux:
indice: du proche UV au proche IR: prestation interrompue, suite départ à la retraite
biréfringence, homogénéité: prestation interrompue, suite départ à la retraite
coefficients électro-optiques / piézoélectriques (contact: Philippe DELAYE)
Caractérisation géométrique et topographique de matériaux:
Surfaces optiques: planéité, angle, rayon de courbure, prestations interrompues, suite départ à la retraite; marche, profil, rugosité.
Images topographiques par microscopie à sonde locale: AFM
Réseaux: mesure du pas: prestation interrompue, suite départ à la retraite
Caractérisation des dioptres et systèmes optiques:
déviation, distance focale, frontale: prestation interrompue, suite départ à la retraite
transmission, nombre d’ouverture et vignetage (contact: Lionel JACUBOWIEZ)
réflectométrie et gonio-diffusiométrie X
caractérisation de films minces par ellipsométrie
efficacité de diffraction de réseaux (contact: Philippe LALANNE)
caractérisation de lentilles thermiques de matériaux sous pompage optique (contact: Patrick GEORGES)
Caractérisation de sources et détecteurs:
mesures photométriques (réponse corps noir, détectivité et sensibilité spectrale, NETD, MRTD) entre 1,5 et 12 µm (contact: Lionel JACUBOWIEZ)
mesure des figures de bruit d’Amplificateurs Optiques à Semiconducteurs (SOA)
mise à jour du 23 février 2012